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		<title>Fan on Warm IR Heaters for Home</title>
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				<title>Chauffeur de conditionnement au niveau de la tranche à large diffusion</title>
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				<pubDate>Thu, 18 Jun 2026 00:46:26 +0800</pubDate>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://warm-ir-heater-home.com/images/594cd14ba0fdce93f512a6ddf4ebf45d.png&#34; alt=&#34;Chauffeur de conditionnement au niveau de la tranche à large diffusion&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;Dans le cadre de la fabrication par emballage au niveau de la wafer, le contrôle de la température est essentiel pendant l’étape de cuisson. Une légère variation de température sur le photorésistant ou quelques degrés de différence dans le processus de durcissement du matériau utilisé pour les moules peut entraîner des problèmes tels que des écarts dans la largeur des lignes, des vides dans les zones non remplies, ainsi que des déformations. L’inhomérogénéité thermique à travers toute la surface de la wafer se reflète non seulement dans les données mesurées, mais aussi dans des produits défectueux et une perte de productivité.&lt;/p&gt;</description>
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